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龍圖騰網(wǎng)恭喜財團法人工業(yè)技術(shù)研究院申請的專利微集成電路大規(guī)模測試獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN114660434B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-04-01發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202110226261.5，技術(shù)領域涉及：G01R31/28；該發(fā)明授權(quán)微集成電路大規(guī)模測試是由張元泰;黃立群設計研發(fā)完成，并于2021-03-01向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本微集成電路大規(guī)模測試在說明書摘要公布了：微集成電路大規(guī)模測試系統(tǒng)，包含：第一測試區(qū)，包含多個測試墊以及多個讀取墊，設置于劃線上；多個測試控制器逐行設置于劃線上；探針，經(jīng)配置接觸第一測試區(qū)以測試多行集成電路芯片；每一個測試控制器經(jīng)配置逐行測試對應的每一行集成電路芯片；其中，探針僅接觸第一測試區(qū)一次；多個讀取墊經(jīng)配置逐行讀取每一行集成電路芯片的測試結(jié)果。

本發(fā)明授權(quán)微集成電路大規(guī)模測試在權(quán)利要求書中公布了：1.一種微集成電路的大規(guī)模測試系統(tǒng)，適用于檢測基板上多個框內(nèi)的多個集成電路芯片，該系統(tǒng)包含：第一測試區(qū)，包含多個測試墊以及多個讀取墊，設置于劃線上；多個測試控制器，逐行設置于劃線上；探針，經(jīng)配置接觸該第一測試區(qū)以測試多行集成電路芯片；每一該多個測試控制器經(jīng)配置逐行測試該多行集成電路芯片中對應的一行集成電路芯片；其中，該探針僅接觸該第一測試區(qū)一次；該多個讀取墊經(jīng)配置逐行讀取每一該多行集成電路芯片的測試結(jié)果。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人財團法人工業(yè)技術(shù)研究院，其通訊地址為：中國臺灣新竹縣；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。