恭喜福建弘電創芯科技有限公司;廣芯龍測(福建)科技有限公司陳炳富獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜福建弘電創芯科技有限公司;廣芯龍測(福建)科技有限公司申請的專利一種芯片檢測設備用機體結構獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN119534950B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-18發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510108563.0,技術領域涉及:G01R1/04;該發明授權一種芯片檢測設備用機體結構是由陳炳富;王受芬;李梓灝設計研發完成,并于2025-01-23向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種芯片檢測設備用機體結構在說明書摘要公布了:本發明公開了一種芯片檢測設備用機體結構,包含一外殼體、控制結構、若干個腔室、門板、散熱板、抽屜,還包括:定點溫控結構,抽屜的側向上開設有若干透熱槽,定點溫控結構包含設置在腔室側面上的穿位結構,穿位結構上設置有與透熱槽相對應的固定結構;內定點到位結構,抽屜底部靠近散熱板的一側設置有一內凹槽,內定點到位結構包含設置在腔室內的一電拉件,電拉件的輸出端上活動設置有一配合件,配合件通過一調向件調節方向,電拉件的上方設置有一電聯動件,本發明能夠提高測試數據的準確度。
本發明授權一種芯片檢測設備用機體結構在權利要求書中公布了:1.一種芯片檢測設備用機體結構,包含一外殼體(10),所述外殼體(10)上設置有一控制結構,所述外殼體(10)的內部分設為若干個腔室(20),若干所述腔室(20)的前端通過門板(30)封閉,若干所述腔室(20)的后端通過散熱板封閉,所述腔室(20)均滑動安裝有抽屜(50),其特征在于,所述機體結構還包括:定點溫控結構(60),所述抽屜(50)的側向上開設有若干透熱槽(51),所述定點溫控結構(60)包含設置在所述腔室(20)側面上的穿位結構(61),所述穿位結構(61)上設置有與透熱槽(51)相對應的固定結構(62),當所述抽屜(50)到位時,所述穿位結構(61)產生的熱量直通至透熱槽(51)內,且所述固定結構(62)貫穿至透熱槽(51)內對抽屜(50)限位;內定點到位結構(70),所述抽屜(50)底部靠近散熱板的一側設置有一內凹槽(52),所述內定點到位結構(70)包含設置在腔室(20)內的一電拉件(71),所述電拉件(71)的輸出端上活動設置有一配合件(72),所述配合件(72)通過一調向件(73)調節方向,所述電拉件(71)的上方設置有一電聯動件,所述配合件(72)位于推入后的抽屜(50)的內凹槽(52)的下方,所述配合件(72)翻轉后鉤緊在內凹槽(52)中并帶動抽屜(50)到達預設的位置上,所述抽屜(50)到達預設的位置后,所述電聯動件嵌設在抽屜(50)內;所述配合件(72)為一與電拉件(71)輸出端鉸接的彎鉤,所述調向件(73)包含連接在彎鉤外側的兩個連接桿(731),所述連接桿(731)的末端連接在轉動電機(732)上,所述腔室(20)的側面上開設有導向槽(21),所述連接桿(731)滑動安裝在導向槽(21)內,所述導向槽(21)的外側設置有肋槽(22),所述轉動電機(732)活動安裝在導向槽(21)的外側;所述電聯動件包含設置在抽屜(50)底部的兩個銀電極片(741),以及固定在電拉件(71)上方的兩個觸點(742),所述觸點(742)與控制結構的電源相接,當所述抽屜(50)到位時,所述銀電極片(741)與觸點(742)形成一回路。
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