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龍圖騰網恭喜悅芯科技股份有限公司申請的專利集成電路芯片測試系統及方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN110456257B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-01發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：201910850832.5，技術領域涉及：G01R31/28；該發明授權集成電路芯片測試系統及方法是由張悅設計研發完成，并于2019-09-09向國家知識產權局提交的專利申請。

本集成電路芯片測試系統及方法在說明書摘要公布了：本發明提供一種集成電路芯片測試系統及方法，涉及集成電路芯片測試技術領域。該系統包括：第一測試設備、第二測試設備、采集設備、存儲設備和計算設備，第一測試設備、采集設備、存儲設備和第二測試設備之間依次電連接，且計算設備分別與第一測試設備、第二測試設備、采集設備和存儲設備電連接；計算設備用于對第一測試設備、第二測試設備、采集設備和存儲設備進行控制，采集設備在第一測試設備接入預設集成電路芯片時，采集針對預設集成電路芯片的運行信號，并將運行信號存儲至存儲設備；第二測試設備從存儲設備獲取運行信號，并基于運行信號對待測集成電路芯片進行測試。本公開能夠提高測試待測集成電路芯片的準確性。

本發明授權集成電路芯片測試系統及方法在權利要求書中公布了：1.一種集成電路芯片測試系統，其特征在于，所述集成電路芯片測試系統包括：第一測試設備、第二測試設備、采集設備、存儲設備和計算設備，所述第一測試設備、所述采集設備、所述存儲設備和所述第二測試設備之間依次電連接，且所述計算設備分別與所述第一測試設備、所述第二測試設備、所述采集設備和所述存儲設備電連接；所述計算設備用于根據針對所述第一測試設備、所述第二測試設備、所述采集設備和所述存儲設備的控制指令，分別對所述第一測試設備、所述第二測試設備、所述采集設備和所述存儲設備進行控制；所述采集設備在所述第一測試設備接入預設集成電路芯片時，采集針對所述預設集成電路芯片的運行信號，并將所述運行信號存儲至所述存儲設備；所述第二測試設備從所述存儲設備獲取所述運行信號，并基于所述運行信號對待測集成電路芯片進行測試，所述預設集成電路芯片與所述待測集成電路芯片的芯片類型相同；所述集成電路芯片測試系統還包括接入器，所述接入器包括與所述預設集成電路芯片電連接的第一接口、與所述第一測試設備電連接的第二接口以及與所述采集設備電連接的第三接口；所述接入器通過所述第一接口和所述第二接口獲取所述運行信號，通過所述第三接口將所述運行信號發送給所述采集設備；所述接入器還包括信號放大器，所述信號放大器與所述第三接口電連接；所述接入器通過所述信號放大器將所述運行信號進行放大，并將放大后的所述運行信號通過所述第三接口發送給所述采集設備；所述采集設備包括第四接口、數模轉換器、多路開關、時序控制器、同步控制器、第五接口和第六接口，所述第四接口、所述數模轉換器、所述多路開關、所述時序控制器和所述第六接口依次電連接，所述同步控制器分別與所述數模轉換器、所述多路開關、所述時序控制器和所述第五接口電連接；所述采集設備通過所述第五接口接收所述計算設備的同步控制指令，并通過所述同步控制器對所述數模轉換器、所述多路開關、所述時序控制器進行時序同步，且所述采集設備還通過所述第四接口接收所述運行信號，通過所述數模轉換器將所述運行信號由數字信號轉換為模擬信號，通過所述多路開關將轉換后的所述運行信號傳輸至所述時序控制器，通過所述時序控制器對轉換后的所述運行信號進行壓縮，通過所述第六接口將壓縮后的所述運行信號發送給所述存儲設備。

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