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龍圖騰網恭喜上海電纜研究所有限公司申請的專利半導電緩沖層電氣的測試電路、評估方法及處理終端獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN111060848B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-03-21發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：201911406771.X，技術領域涉及：G01R31/58；該發明授權半導電緩沖層電氣的測試電路、評估方法及處理終端是由徐曉峰;夏俊峰;施楠楠設計研發完成，并于2019-12-31向國家知識產權局提交的專利申請。

本半導電緩沖層電氣的測試電路、評估方法及處理終端在說明書摘要公布了：本發明提供一種半導電緩沖層電氣的測試電路、評估方法及處理終端，所述半導電緩沖層電氣測試電路包括：高壓環，緊貼待測試電纜段的絕緣屏蔽層，且與待測試電纜段的導體短接；屏蔽環，緊貼待測試電纜段的半導電緩沖層；直流源組件，直流源組件的高壓極與所述高壓環連接，直流源組件的低壓極與所述屏蔽環及電纜的金屬套連接；其中，半導電緩沖層設置于絕緣屏蔽層的兩側。本發明可有效解決現有帶材測試和電纜整體高壓電氣試驗方法的局限和不足；綜合反映緩沖帶材、繞包結構、鋁套間隙等因素，有效評價緩沖層的材料特性、結構特性和電接觸特性，為高壓電纜成品的緩沖層檢驗評價提供方法支撐，從而促進高壓電纜系統壽命期間的可靠性提升。

本發明授權半導電緩沖層電氣的測試電路、評估方法及處理終端在權利要求書中公布了：1.一種半導電緩沖層電氣的測試電路，其特征在于，應用于待測試電纜段；所述待測試所述半導電緩沖層電氣測試電路包括：高壓環，緊貼所述待測試電纜段的絕緣屏蔽層，且與所述待測試電纜段的導體短接；屏蔽環，緊貼所述待測試電纜段的半導電緩沖層；直流源組件，所述直流源組件的高壓極與所述高壓環連接，所述直流源組件的低壓極與所述屏蔽環及電纜的金屬套連接；其中，所述半導電緩沖層設置于所述絕緣屏蔽層的兩側；通過獲取待測試電纜段在至少三種測試環境下所述半導電緩沖層電氣的測試電路中產生的電路試驗參數；根據待測試電纜段在至少三種測試環境下產生的所述電路試驗參數，按照預設半導電緩沖層的性能評估方式，計算在徑向直流回路下所述半導電緩沖層的性能參數；所述試驗參數為測試電路中產生的電壓值及對應的電流值；所述半導電緩沖層的性能參數包括半導電緩沖層的等效線電阻和或等效面電阻。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人上海電纜研究所有限公司，其通訊地址為：200093 上海市楊浦區軍工路1000號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。