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龍圖騰網(wǎng)恭喜長鑫存儲技術(shù)有限公司申請的專利熔斷器測試電路及方法、集成電路獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN110888047B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-04-04發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：201811042810.8，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01R31/327；該發(fā)明授權(quán)熔斷器測試電路及方法、集成電路是由請求不公布姓名設(shè)計研發(fā)完成，并于2018-09-07向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本熔斷器測試電路及方法、集成電路在說明書摘要公布了：本公開是關(guān)于熔斷器測試電路及方法、集成電路，該熔斷器測試電路包括熔斷器和閂鎖電路，閂鎖電路，和所述熔斷器連接，所述閂鎖電路具有信號接收端，所述信號接收端用于接收觸發(fā)信號，使得所述閂鎖電路中的電流增大，能夠?qū)⑷蹟嗥魅蹟唷Ｔ谌蹟喽鄠€熔斷器時，只需觸發(fā)一個熔斷器對應(yīng)的閂鎖電路即可接著觸發(fā)另一個熔斷器對應(yīng)的閂鎖電路，避免了相關(guān)技術(shù)中需要等待一個熔斷器熔斷接著熔斷另一個熔斷器，導(dǎo)致的測試時間長，測試效率低的問題。

本發(fā)明授權(quán)熔斷器測試電路及方法、集成電路在權(quán)利要求書中公布了：1.一種熔斷器測試電路，其特征在于，包括：熔斷器；閂鎖電路，和所述熔斷器連接，所述閂鎖電路具有信號接收端，所述信號接收端用于接收觸發(fā)信號，使得所述閂鎖電路中的電流增大；所述閂鎖電路包括：第一寄生晶體管，其第一發(fā)射極和第二發(fā)射極接收第一電源信號，集電極接收第二電源信號，基極接收第一觸發(fā)信號；第二寄生晶體管，其集電極和所述第一寄生晶體管的基極連接，集電極接收第一電源信號，基極和所述第一寄生晶體管的集電極連接，基極接收第二觸發(fā)信號，第一發(fā)射極和第二發(fā)射極接收第二電源信號；所述熔斷器連接在所述第一寄生晶體管的所述第一發(fā)射極或所述第一寄生晶體管的所述第二發(fā)射極；或者所述熔斷器連接在所述第二寄生晶體管的所述第一發(fā)射極或所述第二寄生晶體管的所述第二發(fā)射極；所述閂鎖電路的觸發(fā)時間小于所述熔斷器的熔斷時間。

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