恭喜株式會社大阪曹達奧田真利獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜株式會社大阪曹達申請的專利銀顆粒獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114206526B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-15發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202080056564.0，技術領域涉及：B22F1/052；該發明授權銀顆粒是由奧田真利;森崇充;三并淳一郎;巖佐成人設計研發完成，并于2020-08-12向國家知識產權局提交的專利申請。
本銀顆粒在說明書摘要公布了：提供一種新的銀顆粒，其在制成導電性粘接劑的情況下，即使在導電性粘接劑的燒結時不加壓、也能在低溫下適宜地燒結、能形成致密度和機械強度剪切強度高的燒結體。一種銀顆粒，其包含：平均粒徑為50～500nm的范圍的銀顆粒A；和平均粒徑為0.5～5.5μm的范圍的銀顆粒B，前述銀顆粒滿足前述銀顆粒B的平均粒徑是前述銀顆粒A的平均粒徑的5～11倍這個關系。
本發明授權銀顆粒在權利要求書中公布了：1.一種銀顆粒，其特征在于，包含：體積基準平均粒徑為50~500nm的范圍的銀顆粒A；和體積基準平均粒徑為0.5~5.5μm的范圍的銀顆粒B，所述銀顆粒滿足所述銀顆粒B的體積基準平均粒徑是所述銀顆粒A的體積基準平均粒徑的5~11倍這個關系，所述銀顆粒A與所述銀顆粒B的質量比為3:7至7:3的范圍，其中，所述體積基準平均粒徑的測定方法為：使用SEM的二次電子模式，在加速電壓20kV、5000~30000倍的觀察倍率下觀察銀顆粒，使用圖像分析軟件從觀察得到的橫向寬度1~20μm的SEM圖像中隨機選擇200個顆粒，并將每個顆粒假定為具有其直徑的球形而測定得到所述體積基準平均粒徑。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人株式會社大阪曹達，其通訊地址為：日本國大阪府大阪市西區阿波座1丁目12番18號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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