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龍圖騰網(wǎng)恭喜龍芯中科技術(shù)股份有限公司申請(qǐng)的專利測(cè)試向量的存儲(chǔ)和調(diào)試方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN114328037B 。

龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-04-01發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202011066462.5，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G06F11/22；該發(fā)明授權(quán)測(cè)試向量的存儲(chǔ)和調(diào)試方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)是由張鵬設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2020-09-30向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本測(cè)試向量的存儲(chǔ)和調(diào)試方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)在說(shuō)明書(shū)摘要公布了：本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N測(cè)試向量的存儲(chǔ)和調(diào)試方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。該方法包括：確定多個(gè)測(cè)試向量；其中，多個(gè)測(cè)試向量針對(duì)芯片中的同一測(cè)試問(wèn)題，且多個(gè)測(cè)試向量中任意兩個(gè)測(cè)試向量對(duì)應(yīng)的測(cè)試問(wèn)題的測(cè)試頻率不同；分別對(duì)每個(gè)測(cè)試向量進(jìn)行劃分，獲取每個(gè)測(cè)試向量的配置部分和測(cè)試端口部分；存儲(chǔ)多個(gè)測(cè)量向量的信息；其中，多個(gè)測(cè)試向量的信息包括獲取的每個(gè)測(cè)試向量的配置部分和任意一個(gè)測(cè)試向量的測(cè)試端口部分。本申請(qǐng)的方法，通過(guò)將測(cè)試向量分成配置部分及測(cè)試端口部分進(jìn)行存儲(chǔ)，由于只存儲(chǔ)了一個(gè)相同的測(cè)試端口部分，節(jié)省了測(cè)試向量的占用空間，并沒(méi)有改變測(cè)試向量本身的性質(zhì)，因此提高了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

本發(fā)明授權(quán)測(cè)試向量的存儲(chǔ)和調(diào)試方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)在權(quán)利要求書(shū)中公布了：1.一種測(cè)試向量的存儲(chǔ)方法，應(yīng)用于芯片中，其特征在于，包括：確定多個(gè)測(cè)試向量；其中，所述多個(gè)測(cè)試向量針對(duì)所述芯片中的同一測(cè)試問(wèn)題，且所述多個(gè)測(cè)試向量中任意兩個(gè)測(cè)試向量對(duì)應(yīng)的所述測(cè)試問(wèn)題的測(cè)試頻率不同；分別對(duì)每個(gè)所述測(cè)試向量進(jìn)行劃分，獲取每個(gè)所述測(cè)試向量的配置部分和測(cè)試端口部分；其中，每個(gè)所述測(cè)試向量的配置部分不同，每個(gè)所述測(cè)試向量的測(cè)試端口部分相同；存儲(chǔ)所述多個(gè)測(cè)量向量的信息；其中，所述多個(gè)測(cè)試向量的信息包括獲取的每個(gè)所述測(cè)試向量的配置部分和任意一個(gè)所述測(cè)試向量的測(cè)試端口部分。

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