恭喜株式會社愛德萬測試汐田夏基獲國家專利權
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龍圖騰網恭喜株式會社愛德萬測試申請的專利電子部件測試裝置及其用的更換部件以及插座獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN113030598B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-01發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202011230806.1,技術領域涉及:G01R29/10;該發明授權電子部件測試裝置及其用的更換部件以及插座是由汐田夏基;峯尾浩之設計研發完成,并于2020-11-06向國家知識產權局提交的專利申請。
本電子部件測試裝置及其用的更換部件以及插座在說明書摘要公布了:本發明提供一種能夠實施具有天線的DUT的基于近場的OTA測試的電子部件裝置。電子部件測試裝置1具備能夠與DUT10電連接的插座5、載板4以及測試器3,插座5具備:頂部插座60,其配置為與DUT10的上表面11a對置,能夠與DUT10電連接;以及底部插座70,其與DUT10的下表面11b抵接,并且能夠與頂部插座電連接,底部插座70具備:基部71,其與DUT10的下表面11b抵接;以及測試天線73,其與測試器3電連接,并且配置為與設備天線12對置。
本發明授權電子部件測試裝置及其用的更換部件以及插座在權利要求書中公布了:1.一種電子部件測試裝置,對被測試電子部件DUT進行測試,所述DUT具有設備天線和形成于第一主面的端子,所述電子部件測試裝置具備:插座,其能夠與所述DUT電連接;第一布線板;以及測試器,其具備裝配有所述第一布線板的測試頭,所述插座具備:第一插座,其配置為與所述第一主面對置,并能夠與所述DUT電連接;以及第二插座,其安裝于所述第一布線板,與所述DUT的所述第一主面的相反側的第二主面抵接,并能夠與所述第一插座電連接,所述第二插座具備:基部,其與所述DUT的所述第二主面抵接;測試天線,其與所述測試器電連接,并配置為與所述設備天線對置;以及第一衰減構件,其對從所述設備天線或所述測試天線輻射的電波進行衰減,所述設備天線包括設置于所述第二主面的第一設備天線,所述測試天線包括配置為與所述第一設備天線對置的第一測試天線,所述基部具有使所述第一測試天線與所述第一設備天線對置的第二開口,所述第一衰減構件含有能吸收毫米波的電波吸收材料,且介于所述測試天線與所述設備天線之間,并封閉所述第二開口,所述DUT的所述第二主面與所述第二插座的所述基部抵接,從而所述設備天線與所述測試天線的位置關系被設定為使來自所述設備天線的電波通過近場到達所述測試天線那樣的位置關系,在所述DUT與所述第一插座電連接并且所述第一插座經由所述第二插座與所述測試頭電連接的狀態下,所述測試器通過在所述設備天線與所述測試天線之間收發電波來對所述DUT進行測試。
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