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龍圖騰網(wǎng)恭喜東方晶源微電子科技(北京)股份有限公司申請的專利缺陷分類方法和裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN114723647B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-04-01發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202011510556.7，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G06T7/00；該發(fā)明授權(quán)缺陷分類方法和裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)是由劉成成;韓春營;俞宗強;李強;馬衛(wèi)民設(shè)計研發(fā)完成，并于2020-12-18向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本缺陷分類方法和裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)在說明書摘要公布了：本申請涉及一種缺陷分類方法和裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)，其中方法包括：讀取當(dāng)前待進(jìn)行缺陷分類的缺陷圖像，參考圖像和缺陷位置；根據(jù)缺陷圖像和參考圖像得到差別圖像，并由差別圖像中提取出特定特征；其中，特定特征對應(yīng)當(dāng)前待進(jìn)行缺陷分類的缺陷類型；將提取出的特定特征輸入至已訓(xùn)練好的分類器中，由分類器根據(jù)特定特征對缺陷圖像進(jìn)行缺陷分類。其通過在缺陷分類時，由差別圖像中提取與缺陷類型相對應(yīng)的特定特征，并基于所提取出的特定特征進(jìn)行相應(yīng)的缺陷分類，實現(xiàn)了缺陷類型的準(zhǔn)確區(qū)分，從而能夠準(zhǔn)確地進(jìn)行缺陷原因分析，進(jìn)而改善良率，提高生產(chǎn)。

本發(fā)明授權(quán)缺陷分類方法和裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)在權(quán)利要求書中公布了：1.一種缺陷分類方法，其特征在于，包括：讀取當(dāng)前待進(jìn)行缺陷分類的缺陷圖像，參考圖像和缺陷位置；根據(jù)所述缺陷圖像和所述參考圖像得到差別圖像，并由所述差別圖像中提取出特定特征；其中，所述特定特征對應(yīng)當(dāng)前待進(jìn)行缺陷分類的缺陷類型；將提取出的所述特定特征輸入至已訓(xùn)練好的分類器中，由所述分類器根據(jù)所述特定特征對所述缺陷圖像進(jìn)行缺陷分類；由所述差別圖像中提取出特定特征，包括：對所述差別圖像進(jìn)行噪聲評估，得到噪聲灰度值的范圍；基于所述噪聲灰度值的范圍，統(tǒng)計所述差別圖像中缺陷區(qū)域的像素信息，并根據(jù)統(tǒng)計得到的所述缺陷區(qū)域的像素信息，確定相應(yīng)的特定特征；其中，所述像素信息包括亮像素的像素數(shù)量、暗像素的像素數(shù)量和所述缺陷區(qū)域的總像素數(shù)量中的至少一種；所述特定特征包括：所述缺陷區(qū)域中所述亮像素所占總像素的比例，所述缺陷區(qū)域中所述暗像素所占總像素的比例，以及所述缺陷區(qū)域中所述亮像素和所述暗像素之間的比例中的至少一種。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人東方晶源微電子科技(北京)股份有限公司，其通訊地址為：100176 北京市大興區(qū)北京經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)經(jīng)海四路156號院12號樓；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。