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龍圖騰網恭喜西安理工大學申請的專利一種光電經緯儀與異址雷達聯合彈道容錯定位方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN113640789B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-04-01發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202110820856.3，技術領域涉及：G01S13/86；該發明授權一種光電經緯儀與異址雷達聯合彈道容錯定位方法是由錢富才;楊越;晏琳;劉磊;謝國設計研發完成，并于2021-07-20向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種光電經緯儀與異址雷達聯合彈道容錯定位方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種光電經緯儀與異址雷達聯合彈道容錯定位方法，具體為：首先，建立彈道參數的三階差分模型，根據閾值原則識別出彈道參數中的異常參數與無異常參數；根據識別出的無異常參數建立彈道3次B樣條模型；通過最小二乘法確定出模型中的樣條系數估值并得到樣條容錯模型；再由異常參數以及樣條容錯模型得到異常參數的修正值；最后將異常參數修正值替代原彈道參數中的異常參數，更新彈道參數，得到準確的定位結果。通過對彈道參數中的異常數據進行處理，使得定位出的彈道參數更加接近真實值，更有利于對評估與改良制導系統精度及性能，可以避免因光?雷異址定位方法的彈道參數不準確而帶來的巨大利益損失。

本發明授權一種光電經緯儀與異址雷達聯合彈道容錯定位方法在權利要求書中公布了：1.一種光電經緯儀與異址雷達聯合彈道容錯定位方法，其特征在于，具體按照以下步驟實施：步驟1、建立彈道參數的三階差分模型，根據閾值原則識別出彈道參數中的異常參數與無異常參數；具體為：在X、Y或者Z方向的彈道參數中，{Ai}|i＝1，2，…，n是一個等間隔采樣的彈道參數數據序列，其中n為數據長度，對{Ai}作3階前向差分，得到三階差分序列，如式1所示；Δ3Ai＝Δ2Ai+1-Δ2Ai1；式1中，Δ2Ai＝ΔAi+1-ΔAi，Δ2Ai+1＝ΔAii+2-ΔAi+1；ΔAi＝Ai+1-Ai，ΔAi+1＝Ai+2-Ai+1；在得到彈道參數的三階差分序列{Δ3Ai}，i＝1，2，…，n-3之后，可得三階差分序列的均方差σ，如式2所示； 式2中，m為數據的起始點，l為數據長度，σ為對應的均方差，如果σλ，λ為判斷門限，將彈道參數中對應于該部分差分數據這一區域的彈道數據視為異常參數Aabnormal；如果σ≤λ，則將該部分彈道參數視為無異常參數Anormal，Anormal，λ是測量精度的3～5倍；為減少計算量，在三階差分數據{Δ3Ai}，i＝1，2，…，n-3中任取一段30個點的數據即可計算出測量精度，如下式所示； 式中，δ為測量精度，m′為所取三階差分數據的起始點，l′為數據長度；步驟2、根據步驟1識別出的無異常參數建立彈道3次B樣條模型；具體過程如下：由步驟1得到的無異常彈道參數用分段3次B樣條函數表示，如式3所示； 式3中，為無異常彈道參數，ti為彈道參數的采樣時間，L為數據長度；p為分段數，αj為每一段的未知樣條系數，j＝0，…，p；εi為無異常彈道參數的隨機誤差向量；T0、Tp分別為所處理彈道參數區間的兩個時間端點，即Tp＝tL,T0＝t1，Tj為每一段彈道參數對應的時刻，并且Tj＝T0+jh；h為每個分段區間的時間長度， 為三階標準B樣條函數，令則有Bt如式4所示； 若令 并令ε＝[ε1，…，εL]T，則得到3次B樣條模型，如式5所示；Anormal＝Tα+ε5；其中，步驟3、通過最小二乘法確定出步驟2模型中的樣條系數估值并得到樣條容錯模型；具體過程如下：設隨機誤差向量ε在時間序列上獨立同等方差σ2，由最小二乘法估計出樣條系數估值如式6所示； 進一步得到樣條容錯模型式中，為待估數據序列，為待估數據序列的樣條基函數，并且， N為待估數據序列的長度，P為樣條分段數，h為每個分段區間的時間長度；步驟4、由步驟1中識別出的異常參數以及步驟3確定出的樣條容錯模型得到異常參數的修正值；具體為：由步驟3中的計算彈道參數中異常區域數據的樣條基函數再由樣條容錯模型得到異常區域數據的修正值，如式7所示； 步驟5、將步驟4得到的異常參數修正值替代原彈道參數中的異常參數，更新彈道參數，得到準確的定位結果。

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